大肠杆菌离子束诱变及rpoB基因两个新的利福平抗性位点鉴定
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    以60Co-γ射线辐照为参照体系,研究了低能氮离子诱发大肠杆菌利福平抗性突变。结果表明,低能氮离子注入具有损伤轻而突变率较高的特点。碱基置换型突变与其检出频率分析表明,CG→TA、GC→AT、AT→GC转换与AT→TA颠换为低能氮离子诱发大肠杆菌活体细胞内的高频突变,占检出总突变数的875% (77/88)。并鉴定出大肠杆菌rpoB基因中两个新的利福平抗性决定位点。位点一位于1551位鸟嘌呤脱氧核苷酸(dG)被胞嘧啶脱氧核苷酸(dC)取代,导致Gln517 (谷氨酰胺残基) 被His (组氨酸) 替代;位点二位于1692的胞嘧啶脱氧核苷酸(dC)被胸腺嘧啶脱氧核苷酸(dT)替代,导致Pro564 (脯氨酸残基) 被Leu (亮氨酸) 取代,使突变子产生抗性。其中位点一还未见报道,位点二的同义突变已有报道,但1692位点C到T的核苷酸突变并没有得到鉴定。

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引用本文

谢传晓 姚建铭 潘仁瑞 吴李君 余增亮. 大肠杆菌离子束诱变及rpoB基因两个新的利福平抗性位点鉴定[J]. 微生物学报, 2003, 43(6):

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